● 专为TT时间长的大批量生产设计的多位测试能力
● 更高的UPH满足快速生产需求
● 在大规模运行中仍保持低故障率
H06321H的设计注重于高速和高UPH的性能，使其在测试时间长，而高产出的生产环境中脱颖而出。低故障率和高速测试配合高精度的结果，确保了生产的连续性和效率，使得这款机型成为高量产生产线上的首选设备。
| 芯片检测范围 | 2*2mm~25*25mm |
| 出入料方式 | Carrier Tray /JEDEC Tray |
| Test Site | 32 |
| Index Time | ~6s |
| UPH (dummy run) | ~4000 |
| Jam Rate | <1/4000 (>3mm); <1/2000(<3mm) |
| 温度范围 | 常温~120度，150（option） |
| 与测试机通讯方式 | TCP/IP |
| 对应产品类型 | CIS、光感器件 |
| 设备大小 | 2300L*1900W*2400H |
| 测试头压力 | 120kgf |
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